2. An introduction to logic circuit testing
پدیدآورنده: Lala, Parag K.,
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه اصفهان (اصفهان)
موضوع: Logic circuits - Testing ► Digital electronics - Testing ► Integrated circuits - Very large scale integration- Testing
رده :
621
L193i
3. An introduction to logic circuit testing
پدیدآورنده: Lala, Parag K.,
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه اصفهان (اصفهان)
موضوع: Logic circuits - Testing ► Digital electronics - Testing ► Integrated circuits - Very large scale integration- Testing
رده :
621
L193i
4. An introduction to logic circuit testing
پدیدآورنده: Lala, Parag K.,
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه اصفهان (اصفهان)
موضوع: Logic circuits - Testing ► Digital electronics - Testing ► Integrated circuits - Very large scale integration- Testing
رده :
621
L193i
5. Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
پدیدآورنده: \ Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes
کتابخانه: کتابخانه زبانهای خارجی و منابع اسلامی (قم)
موضوع: Logic circuits -- Design,Logic circuits -- Testing,Uncertainty (Information theory),مدارهای منطقی -- طراحی,مدارهای منطقی -- آزمایش,عدم قطعیت (نظریه اطلاعات)
رده :
E-Book
,
6. Design, analysis and test of logic circuits under uncertainty
پدیدآورنده: Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبانهای اروپایی (قم)
موضوع: Logic circuits-- Design,Logic circuits-- Testing,Uncertainty (Information theory)
رده :
TK7868
.
L6
K75
2013
7. Design of testable logic circuits
پدیدآورنده: R.G. Bennetts
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اطلاع رسانی دانشگاه شاهد (تهران)
موضوع: Logic circuits,Logic circuits--Testing
رده :
TK
،
7868
،.
L6
,
B45
،
1984
8. Design of testable logic circuits
پدیدآورنده: Bennetts, R.G.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Logic circuits,Logic circuits - Testing
رده :
TK
7868
.
L6
B45
1984
9. Design of testable logic circuits
پدیدآورنده: Bennetts, R. G.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (اصفهان)
موضوع: Logic circuit►Logic circuits- Testing
رده :
TK
7686
.
L6B45
1984
10. Design of testable logic circuits
پدیدآورنده: / R.G. Bennetts
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکدههای فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Logic circuits,Logic circuits - Testing
رده :
TK
7686
.
L6B45
1984
11. Design of testable logic circuits
پدیدآورنده: BENNETTS,R G
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع: LOGIC CIRCUITS , LOGIC CIRCUITS-TESTING
رده :
TK
7868
.
L6
B45
1984
12. Edsign of testable logic circuits
پدیدآورنده: R.G. Bennetts
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز نشر دانشگاه بیرجند (دکتر محمد حسن گنجی) (خراسان جنوبی)
موضوع: ، Logic circuits,، logic circuits - testing
رده :
TK
7686
.
L6
B45
1984
13. Neural models and algorithms for digital testing
پدیدآورنده: Chakradhar, Srimat T
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (اصفهان)
موضوع: Logic circuits- Testing►Automatic checkout equipment►Digital integrated circuits- Testing- Data processing
رده :
TK
7868
.
L6
,
C44
14. Neural models and algorithms for digital testing
پدیدآورنده: Chakradhar, Srimat T.
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)
موضوع: ، Logic circuits- Testing,، Automatic checkout equipment,، Digital integrated circuits- Testing- Data processing
رده :
TK
7868
.
L6C44
1991
15. Neural models and algorithms for digital testing
پدیدآورنده: / by Srimat T. Chakradhar, Vishwani D. Agrawal, Michael L. Bushnell
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکدههای فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Logic circuits - Testing,Automatic checkout equipment,Digital integrated circuits - Testing - Data processing
رده :
TK
7868
.
L6C44
1991
16. Reasoning in Boolean networks: logic synthesis and verification using testing techniques
پدیدآورنده: Kunz, Wolfgang
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Data processing,، Integrated circuits-- Verification-- Data processing,، Logic design-- Data processing
رده :
TK
7874
.
K866
1997
17. Selected reprints on logic design for testability
پدیدآورنده: Compiled by Constantin C. Timoc
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Logic circuits - Testing - Addresses, essays, lectures
رده :
TK
7888
.
4
.
S45
1984
18. Sequential logic testing and verification
پدیدآورنده: / by Abhijit Ghosh, Srinivas Devadas, A. Richard Newton,Ghosh
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Logic circuits -- Testing,Logic design,Computer - aided design
رده :
TK
7868
.
L6G47
1992
19. The board designer's guide to testable logic circuits
پدیدآورنده: / Colin Maunder
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه کردستان (کردستان)
موضوع: Logic circuits -- Testing
رده :
TK7868
.
L6M376
1992
